Ihr Inspektionsmikroskop mit hervorragender Auflösung
SteREO Discovery.V8 - Wafer Inspection
Die erkennbar verbesserte dreidimensionale Bildwahrnehmung hilft Ihnen speziell in der Wafer Qualitätssicherung. Erfassen Sie gestochen scharfe, brillante Fotos über den gesamten 8:1-Zoombereich hinweg.
Highlights
Manueller 8:1-Zoom
Ergo-Tubus
Grob- und Feintrieb
Stabiles Stativ
Manuelle Fokussierung
Manueller X-Y-Tisch
Koaxiale Beleuchtung
LED-Ringlicht
LED-Durchlicht
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